STED-Mikroskopie

Die STED-Mikroskopie (STED = Stimulated Emission Depletion) als hochauflösende, im Scan-Modus arbeitende Methode, stellt besondere Bedingungen an die Beschaffenheit ihrer optischen Komponenten.

Bei STED wird das Präparat nicht nur mit dem fokussierten Anregungsstrahl beleuchtet, sondern gleichzeitig mit einem zweiten Laserstrahl, dem „Ausschaltestrahl“ (Depletion- oder STED-Puls). Zur Erzeugung des ringförmigen „Donut“-Modus müssen die Laser extrem genau fokussiert werden. Dies erfordert spezielle Spezifikationen der Strahlenteiler.

AHF analysentechnik AG bietet hierzu in Zusammenarbeit mit Chroma Technology Corp. exakt auf den jeweiligen Aufbau abgestimmte Strahlenteiler-Designs. Je nach Aufbau wird z.B. der STED-Laser mithilfe eines Kurzpass-Strahlenteilers, der Fluoreszenz anregende Laserstrahl mithilfe eines Langpass-Strahlenteiler eingekoppelt. Beide müssen exakt auf die  Wellenlängenbereiche der verwendeten Laser und Fluoreszenzfarbstoffe abgestimmt sein. Zusätzlich ist ein λ/10 Oberflächenbeschaffenheit zwingend erforderlich. Dies kann nur auf dicken Quarz-Substraten gewährleistet werden.

Spezielle Laser „Clean-up“-Filter, auch als Kurzpass-Version für TiSa Laser, sind in großer Vielfalt verfügbar, dies gilt entsprechend für die spezifischen Bandpassfilter, die vor den Detektoren angebracht werden. Hohe Kantensteilheit, maximale Transmission und extreme Blockung der im STED-Aufbau verwendeten Laser stellen Grundvoraussetzungen dar für deren Spezifikation.

Durch die intensive Zusammenarbeit mit sehr namhaften Forschungsgruppen hat sich das Team von AHF analysentechnik AG vielseitige Erfahrungen angeeignet.