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Strahlenteiler HC 662 imaging flat



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  • F38-662_T3
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AOI 45° Reflexion 350-650 nm Transmission 674-1200 nm Abmessung 25,2 x 35,6 x 3 mm mehr
Produktinformationen "Strahlenteiler HC 662 imaging flat"
AOI 45°
Reflexion 350-650 nm
Transmission 674-1200 nm
Abmessung 25,2 x 35,6 x 3 mm
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Spezifikationen

Order-No.: FF662-FDi02-t3-25x36
Reflection Band 1: Ravg > 95% 350 - 650 nm
Edge Wavelength 1: 662 nm
Transmission Band 1: Tavg > 93% 673.7 - 1200 nm
Common Fluorophore Pair to Spli: TxRed/Cy5
Angle of Incidence: 45 ± 1.5 degrees
Cone Half-angle: 2 degrees
Optical Damage Rating: Testing has proven to show no signs of degradation when exposed to at least 6.0 W of power from an unfiltered xenon arc lamp over a 25 mm diameter (corresponding to 1.2 W/cm2) for over 500 hrs.
Steepness: Standard
Filter Effective Index: 1.94
Understanding `Effective Index of Refraction` neff
Substrate type: low-autofluorescence optical quality glass
Reflected Wavefront Error (3 mm: < 0.2λ P-V RWE @ 632.8 nm
Flatness / RWE Classification: Image-splitting
Transverse Dimensions (L x W): 25.2 mm x 35.6 mm
Transverse Tolerance: ± 0.1 mm
Filter Thickness (3 mm, unmount: 3.0 mm
Filter Thickness Tolerance (3 m: ± 0.1 mm
Clear Aperture: ≥ 80% (elliptical)
Scratch-Dig: 60-40
Substrate Thickness (3 mm, unmo: 3.0 mm
Orientation: Reflective surface marked with laser dot - Orient in direction of incoming light
Other physical specs: Standard Specifications of Our Filters and Beam Splitters
Anzahl Bänder/Kanten/Notch: 1
Garantie: 10 Jahre
Kantensteilheit: Standard für Fluoreszenz
Scratch-Dig: 60-40
Art des Strahlenteilers: Langpass
Abmessungen: 25,2 x 35,6 mm
geeignet für: Image-Splitting
Ebenheit: < 0,2 lambda P/V RWE
Hersteller (optische Filter): IDEX / Semrock