Laser-Strahlenteiler HC BS R635 lambda/5 PV flat



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  • F38-635S
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AOI 45° Reflexion 632,8-647,1 nm >98% für s-pol. Reflexion 632,8-647,1 nm >90% für p-pol.... mehr
Produktinformationen "Laser-Strahlenteiler HC BS R635 lambda/5 PV flat"
AOI 45°
Reflexion 632,8-647,1 nm >98% für s-pol.
Reflexion 632,8-647,1 nm >90% für p-pol.
Reflexion 632,8-647,1 nm >94%
Reflexion 350-632,8,8 nm >90% durchschnittlich
Transmission 658,8 - 1200,0 nm >93%
EBENHEIT: < 0.2 lambda P-V RWE @ 632.8 nm
Abmessung 25,2 x 35,6 x 3,0 mm
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Spezifikationen

OrderNo.: Di03-R635-t3-25x36
Substrate Type: low-autofluorescence optical quality glass
Scratch-Dig: 60-40
rabs-and-passband-range 1: Rabs > 94% 632.8 - 647.1 nm
rabs-and-passband-range 1(p-pol): Rabs > 90% 632.8 - 647.1 nm
rabs-and-passband-range 1(s-pol): Rabs > 98% 632.8 - 647.1 nm
Transmission Band 1: Tavg > 93% 658.8 - 1200 nm
Angle of Incidence (AOI): 45 degrees with a shift of 0.35%/degree (40 - 50 degrees)
Cone Half-angle (CHA): 0.5 degrees
Optical Damage Rating: 1 J/cm² @ 532 nm (10 ns pulse width)
Flatness 1: < 1 lambda P-V RWE @ 632.8 nm
Flatness 3: < 0.2 lambda P-V RWE @ 632.8 nm
Transverse Dimensions (LxW): 25.2 mm x 35.6 mm
Transverse Tolerance (mounted): ± 0.1 mm
Filter Thickness 1 (unmounted): 1.05 mm
Filter Thickness Tolerance 1 (unmounted): ± 0.05 mm
Filter Thickness 3 (unmounted): 3.0 mm
Filter Thickness Tolerance 3 (unmounted): ± 0.1 mm
Clear Aperture: ≥ 80% (elliptical)
Substrate Thickness (1 mm, unmounted): 1.05 mm
laserwls 1: 632.8 nm, 635 +7/-3 nm, 647.1 nm
Filter Effective Index: 1.76
Understanding ‘Effective Index of Refraction’ neff
Substrate Thickness Tolerance (1 mm, unmounted): ± 0.05 mm
Substrate Thickness (3 mm, unmounted): 3.0 mm
Scratch-Dig: 60-40
Damage Threshold: 1 J/cm² @ 532 nm (10 ns pulse width)
Kantensteilheit: Standard für Fluoreszenz
geeignet für: Laser-Anwendungen
Laserwellenlänge: 635 nm
Hersteller: Semrock