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Notch Strahlenteiler 532 nm



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  • F78-534
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AOI 45° Reflexion 532 nm >98% Transmission 350-507,5 und 570-1600 nm >90% Notchbreite 60 nm... mehr
Produktinformationen "Notch Strahlenteiler 532 nm"
AOI 45°
Reflexion 532 nm >98%
Transmission 350-507,5 und 570-1600 nm >90%
Notchbreite 60 nm
25,2 x 35,6 x 1,1 mm
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Spezifikationen

Order-No.: NFD01-532-25x36
Reflection Band 1: Rabs > 98% 532 nm
Transmission Band 1: Tavg > 90% 350 - 507.5 nm
Transmission Band 2: Tavg > 90% 570 - 1600 nm
Angle of Incidence: 45 ± 1 degrees
Cone Half-angle: 2 degrees
Optical Damage Rating: 1 J/cm2 @ 532 nm (10 ns pulse width)
Filter Effective Index: 1.81
Understanding `Effective Index of Refraction` neff
Substrate type: Fused Silica
Flatness / RWE Classification: Laser
Reflected Wavefront Error: < 6λ P-V RWE @ 632.8 nm
Transverse Dimensions (L x W): 25.2 mm x 35.6 mm
Transverse Tolerance: ± 0.1 mm
Filter Thickness (unmounted): 1.05 mm
Filter Thickness Tolerance (unmounted): ± 0.05 mm
Clear Aperture: ≥ 80% (elliptical)
Scratch-Dig: 60-40
Substrate thickness: 1.05 mm
Orientation: Reflective surface marked with part number - Orient in direction of incoming light
Garantie: 10 Jahre
geeignet für: Laser-Anwendungen
Scratch-Dig: 60-40
Substratdicke: 1,05 mm
Damage Threshold: 1 J/cm² @ 532 nm (10 ns pulse width)
Laserwellenlänge: 532
Ebenheit: < 6 lambda P/V RWE
Hersteller (optische Filter): IDEX / Semrock