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Laser-Strahlenteiler HC R594 1 lambda PV flat



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  • F38-595
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AOI 45° Reflexion 593,5-594,3 nm > 98% (für s-pol.) Reflexion 593,5-594,3 nm > 90% (für... mehr
Produktinformationen "Laser-Strahlenteiler HC R594 1 lambda PV flat"
AOI 45°
Reflexion 593,5-594,3 nm > 98% (für s-pol.)
Reflexion 593,5-594,3 nm > 90% (für p-pol.)
Reflexion 593,5-594,3 nm > 94%
Reflexion 350-593,5 nm >90% durchschnittlich
Transmission 605 - 1200.0 nm >93% durchschnittlich
EBENHEIT: <1 lambda P-V RWE @ 632.8 nm
Abmessung 25,2 x 35,6 x 1,05 mm
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Spezifikationen

OEM-/Originalnummer: Di03-R594-t1-25x36
Reflection Band 1: Rabs > 94% 593.5 - 594.3 nm
Reflection Band 1 (p-pol): Rabs > 90% 593.5 - 594.3 nm
Reflection Band 1 (s-pol): Rabs > 98% 593.5 - 594.3 nm
Transmission Band 1: Tavg > 93% 605 - 1200 nm
Laser Wavelengths 1: 593.5 nm, 594.1 nm, 594.0 +/- 0.3 nm
Angle of Incidence: 45 degrees with a shift of 0.35%/degree (40 - 50 degrees)
Cone Half-angle: 0.5 degrees
Optical Damage Rating: 1 J/cm² @ 532 nm (10 ns pulse width)
Filter Effective Index: 2.09
Understanding `Effective Index of Refraction` neff
Substrate type: low-autofluorescence optical quality glass
Reflected Wavefront Error (3 mm: < 0.2λ P-V RWE @ 632.8 nm
Flatness / RWE Classification: Super-resolution / TIRF
Reflected Wavefront Error: < 1λ P-V RWE @ 632.8 nm
Transverse Dimensions (L x W): 25.2 mm x 35.6 mm
Transverse Tolerance: ± 0.1 mm
Filter Thickness (1 mm, unmount: 1.05 mm
Filter Thickness Tolerance (1 m: ± 0.05 mm
Filter Thickness (3 mm, unmount: 3.0 mm
Filter Thickness Tolerance (3 m: ± 0.1 mm
Clear Aperture: ≥ 80% (elliptical)
Scratch-Dig: 60-40
Substrate Thickness (1 mm, unmo: 1.05 mm
Substrate Thickness Tolerance (: ± 0.05 mm
Substrate Thickness (3 mm, unmo: 3.0 mm
Other physical specs: Standard Specifications of Our Filters and Beam Splitters
Anzahl Bänder/Kanten/Notch: 1
Garantie: 10 Jahre
geeignet für: Laser-Anwendungen
Kantensteilheit: Standard für Fluoreszenz
Scratch-Dig: 60-40
Art des Strahlenteilers: Langpass
Laserwellenlänge: 594
Abmessungen: 25,2 x 35,6 mm
Damage Threshold: 1 J/cm² @ 532 nm (10 ns pulse width)
Ebenheit: <1 lambda P/V RWE
Hersteller (optische Filter): IDEX / Semrock