• *** Bitte beachen Sie, dass sich unser Angebot ausschließlich an Geschäftskunden richtet! ***

Laser-Strahlenteiler HC R785 1 lambda PV flat



626,00 € *
Inhalt: 1 Stück

zzgl. MwSt., zzgl. Versandkosten
**Sparen Sie 5% bei Online-Bestellung!**

Lieferzeit ca. 6–10 Wochen

Bitte beachten Sie, dass aktuell die Lieferzeit aufgrund unkalkulierbarer Lieferengpässe nicht garantiert werden kann.

  • F38-786
EinstellungenMehr:
Wellenlänge nm
Reset
Zoom
AOI 45° Laser Wavelengths 780 nm, 785 nm, 790nm Reflexion 780-790 nm >98% für s-pol.... mehr
Produktinformationen "Laser-Strahlenteiler HC R785 1 lambda PV flat"
AOI 45°
Laser Wavelengths 780 nm, 785 nm, 790nm
Reflexion 780-790 nm >98% für s-pol.
Reflexion 780-790 nm >90% für p-pol.
Reflexion 780-790 nm >94%
Reflexion 350-780 nm >90% durchschnittlich
Kantenwellenlänge: 800 nm
Transmission 804,3 - 1600,0 nm >93% durchschnittlich
EBENHEIT: < 1 lambda P-V RWE @ 632.8 nm
Abmessung 25,2 x 35,6 x 1,05 mm
Weiterführende Links zu "Laser-Strahlenteiler HC R785 1 lambda PV flat"
Technische DetailsMehr anzeigen

Spezifikationen

Order-No.: Di03-R785-t1-25x36
Reflection Band 1: Rabs > 94% 780 - 790 nm
Reflection Band 1 (p-pol): Rabs > 90% 780 - 790 nm
Reflection Band 1 (s-pol): Rabs > 98% 780 - 790 nm
Transmission Band 1: Tavg > 93% 804.3 - 1600 nm
Laser Wavelengths 1: 780 nm, 785 nm, 790nm
Angle of Incidence: 45 degrees with a shift of 0.35%/degree (40 - 50 degrees)
Cone Half-angle: 0.5 degrees
Optical Damage Rating: 1 J/cm² @ 532 nm (10 ns pulse width)
Filter Effective Index: 2.04
Understanding `Effective Index of Refraction` neff
Substrate type: low-autofluorescence optical quality glass
Reflected Wavefront Error (3 mm: < 0.2λ P-V RWE @ 632.8 nm
Flatness / RWE Classification: Super-resolution / TIRF
Reflected Wavefront Error: < 1λ P-V RWE @ 632.8 nm
Transverse Dimensions (L x W): 25.2 mm x 35.6 mm
Transverse Tolerance: ± 0.1 mm
Filter Thickness (unmounted): 1.05 mm
Filter Thickness Tolerance (unm: ± 0.05 mm
Filter Thickness (3 mm, unmount: 3.0 mm
Filter Thickness Tolerance (3 m: ± 0.1 mm
Clear Aperture: ≥ 80% (elliptical)
Scratch-Dig: 60-40
Substrate Thickness (1 mm, unmo: 1.05 mm
Substrate Thickness Tolerance (: ± 0.05 mm
Substrate Thickness (3 mm, unmo: 3.0 mm
Other physical specs: Standard Specifications of Our Filters and Beam Splitters
Anzahl Bänder/Kanten/Notch: 1
Garantie: 10 Jahre
geeignet für: Laser-Anwendungen
Kantensteilheit: Standard für Fluoreszenz
Scratch-Dig: 60-40
Art des Strahlenteilers: Langpass
Abmessungen: 25,2 x 35,6 mm
Damage Threshold: 1 J/cm² @ 532 nm (10 ns pulse width)
Laserwellenlänge: 785
Hersteller (optische Filter): IDEX / Semrock