995 nm VersaChrome Edge Langpassfilter

995 nm VersaChrome Edge Langpassfilter
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  • F35-995
Abmessung 25,2 x 35,6 x 2 mm Nominaler effektiver Brechungsindex 1,72 -- durchschn. Transmission... mehr
Produktinformationen "995 nm VersaChrome Edge Langpassfilter"
Abmessung 25,2 x 35,6 x 2 mm
Nominaler effektiver Brechungsindex 1,72
--
durchschn. Transmission bei AOI 0° > 93% über 127 nm
Wellenlänge der Kante bei AOI 0°: 995 nm
durchschn. Blockung bei AOI 0°: OD > 6 von 677 nm - 975 nm
Kantensteilheit 2,5% (Blockung zu Transmission)
--
durchschn. Transmission bei AOI 60° > 90% über 114 nm
Wellenlänge der Kante bei AOI 60°: 887 nm
durchschn. Blockung bei AOI 60°: OD > 6 von 677 nm - 865 nm
Kantensteilheit 3% (Blockung zu Transmission)
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Spezifikationen

Order-No.: TLP01-995-25x36
Transmission Band 1: Tavg > 93% over 127 nm
Edge Wavelength (0 deg): 995 nm (minimum)
Blocking Band 1: ODavg > 6 772 - (0.98*Edge Wavelength 0deg) nm
Cuton Transition Width: 2.5% (from blocking to transmission)
Blocking Band 1 (60 deg): ODavg > 6 772 - (0.975*Edge Wavelength 60deg) nm
Transmission Band 1 (60 deg): Tavg > 90% over 114 nm
Edge Wavelength (60 deg): 887 nm (maximum)
Cuton Transition Width (60 deg): 3% (from blocking to transmission)
Angle of Incidence: 0 - 60 degrees
Cone Half-angle: 0 degrees
Optical Damage Rating: Not tested
Filter Effective Index: 1.72
Understanding `Effective Index of Refraction` neff
Substrate type: low-autofluorescence optical quality glass
Transverse Dimensions (L x W): 25.2 mm x 35.6 mm
Transverse Tolerance: ± 0.1 mm
Filter Thickness (unmounted): 2.0 mm
Filter Thickness Tolerance (unmounted): ± 0.1 mm
Clear Aperture: ≥ 80% (elliptical)
Scratch-Dig: 60-40
Substrate thickness: 2.0 mm
Orientation: Reflective surface marked with part number - Orient in direction of incoming light
Other physical specs: Standard Specifications of Our Filters and Beam Splitters
Anzahl Bänder/Kanten/Notch: 1
Hersteller: Semrock
Anwendung (Filter): Standard/Fluoreszenz
Art des Filters: LP Tunable
CWL/EdgeWL/NotchWL (nm): 995