704 nm VersaChrome Edge tunable longpass filter
Produktinformationen "704 nm VersaChrome Edge tunable longpass filter"
Abmessung 25,2 x 35,6 x 2 mm
Nominaler effektiver Brechungsindex 1,74
--
durchschn. Transmission bei AOI 0° > 93% über 92 nm
Wellenlänge der Kante bei AOI 0°: 704 nm
durchschn. Blockung bei AOI 0°: OD > 6 von 547 nm - 690 nm
Kantensteilheit 2,5% (Blockung zu Transmission)
--
durchschn. Transmission bei AOI 60° > 90% über 82 nm
Wellenlänge der Kante bei AOI 60°: 628 nm
durchschn. Blockung bei AOI 60°: OD > 6 von 547 nm - 612 nm
Kantensteilheit 3% (Blockung zu Transmission)
Nominaler effektiver Brechungsindex 1,74
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durchschn. Transmission bei AOI 0° > 93% über 92 nm
Wellenlänge der Kante bei AOI 0°: 704 nm
durchschn. Blockung bei AOI 0°: OD > 6 von 547 nm - 690 nm
Kantensteilheit 2,5% (Blockung zu Transmission)
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durchschn. Transmission bei AOI 60° > 90% über 82 nm
Wellenlänge der Kante bei AOI 60°: 628 nm
durchschn. Blockung bei AOI 60°: OD > 6 von 547 nm - 612 nm
Kantensteilheit 3% (Blockung zu Transmission)
Spezifikationen
| OEM-/Originalnummer: | TLP01-704-25x36 |
|---|---|
| Transmission Band 1: | Tavg > 93% over 90 nm |
| Edge Wavelength (0 deg): | 704 nm (minimum) |
| Blocking Band 1: | ODavg > 6 547 - (0.98*Edge Wavelength 0deg) nm |
| Cuton Transition Width: | 2.5% (from blocking to transmission) |
| Blocking Band 1 (60 deg): | ODavg > 6 547 - (0.975*Edge Wavelength 60deg) nm |
| Transmission Band 1 (60 deg): | Tavg > 90% over 80 nm |
| Edge Wavelength (60 deg): | 628 nm (maximum) |
| Cuton Transition Width (60 deg): | 3% (from blocking to transmission) |
| Angle of Incidence: | 0 - 60 degrees |
| Cone Half-angle: | 0 degrees |
| Optical Damage Rating: | Not tested |
| Filter Effective Index: |
1.74 Understanding `Effective Index of Refraction` neff |
| Substrate type: | low-autofluorescence optical quality glass |
| Transverse Dimensions (L x W): | 25.2 mm x 35.6 mm |
| Transverse Tolerance: | ± 0.1 mm |
| Filter Thickness (unmounted): | 2.0 mm |
| Filter Thickness Tolerance (unm: | ± 0.1 mm |
| Clear Aperture: | ≥ 80% (elliptical) |
| Scratch-Dig: | 60-40 |
| Substrate thickness: | 2.0 mm |
| Orientation: | Reflective surface marked with part number - Orient in direction of incoming light |
| Other physical specs: | Standard Specifications of Our Filters and Beam Splitters |
| Abmessungen: | 25,2 x 35,6 mm |
| Anzahl Bänder/Kanten/Notch: | 1 |
| Art des Filters: | LP Tunable |
| Anwendung (Filter): | Standard/Fluoreszenz |
| CWL/EdgeWL/NotchWL (nm): | 704 |